Завершены первые исследования уникальных пленок оксида гафния на кремниевой подложке

Компания «Оптогард Нанотех» совместно с компанией «Системы для микроскопии и анализа » (ЦКП «Микроанализ», Технопарк «Сколково») завершила первый цикл исследований пленок оксида гафния на кремниевой подложке. Исследование тонкой пленки HfO2 на Si проводились с помощью сканирующего аналитического просвечивающего электронного микроскопа TecnaiG2 F20 S-TwinTMP. C помощью двулучевой системы (smalldualbeam, FIB/SEM) в растровом электронном микроскопе HeliosNanoLab 650 […]

На сайте Фонда «Сколково» опубликовано расширенное интервью о технологиях нашей компании

Объем рынка услуг по нанесению покрытий на металлы только в США превышает 13 млрд долларов при годовом росте в 5%. Современная промышленность остро нуждается в материалах, имеющих покрытия из сверхтвердых нанокомпозитных материалов, стойких к износу и ударам, химическому и окислительному воздействию. Снижение веса сверхтвердых материалов также является одной из самых важных задач. Таким образом, развитие […]

Компания «Оптогард Нанотех» расширяет исследования в ЦКП «Микроанализ»

Копания «Оптогард Нанотех» и ООО «Системы для микроскопии и анализа» (ЦКП «Микроанализ», Технопарк «Сколково») заключили долгосрочный договор, предусматривающий проведение масштабных исследований свойств и структур сверхтвердых пленок и модифицированных поверхностей металлов, полученных с использованием наших технологий. Компании уже приступили к проведению исследований на новейшем исследовательском оборудовании, установленном в лаборатории ЦКП «Микроанализ» Технопарка «Сколково».